HW-Testsysteme

Extreme Umweltbedingungen erfordern zur verlässlichen Funktion entsprechend robuste Hardware. Diese wird durch klimatische, mechanische, chemische oder elektrische Einflüsse stark belastet und möglicherweise in ihrer Funktionalität beeinträchtigt. Für ihren bestimmungs­gemäßen Gebrauch unter diesen Bedingungen muss sie daher eigens qualifiziert werden.

So können wir Ihnen durch unseren Test zum Beispiel nachweisen, dass Ihr Embedded System in einer Umgebungstemperatur von −40°C bis +150°C unverändert funktionieren wird. Aus langjähriger Erfahrung wissen wir worauf es bei solchen Beschaffenheits­prüfungen ankommt. Wir kennen die entscheidenden Parameter und Mechanismen, die zu Ausfällen führen können.

Auf Basis von Anforderungen, Spezifikationen und unserem Know-how konzeptionieren wir Ihnen ein HW-Testsystem mit Kommunikation, Spannungs­versorgung, Sensor- und Last­nachbildungen. Der Aufbau erfolgt modular, so müssen teure Komponenten nur für die Laufzeit des Tests beigestellt werden. Dies ist z.B. bei Spannungs­versorgungen sehr vorteilhaft, da je nach Ansatz nicht nur eine pro Aufbau sondern eine pro angeschlossenem Prüfling benötigt werden kann. Zusätzlich präferieren wir eine Trennung der Massen von Signalen und Lasten, um im Fehlerfall eine gegenseitige Beeinflussung der Prüflinge zu verhindern.

Die zentrale Steuerung des Systems erfolgt über einen Rechner, der auch die zu erfassenden Daten verarbeitet. Dabei wird nur eine einzige CAN-Schnittstelle benötigt, um mit allen Prüflingen zu kommunizieren. Mit der Durchführung von parallelen Tests an sechs, acht, zehn oder mehr Steuergeräten erhöht sich für Sie die statistische Aussagekraft der Testergebnisse.

Die Auslegung der Testsysteme sieht einen dauerhaften Betrieb der Prüflinge vor. So können Endstufen wie in der Applikation kontinuierlich oder gepulst betrieben werden.

Um allen Anforderungen gerecht zu werden, sind auch Speziallösungen realisierbar. So kann z.B. bei der Konzeptionierung des Testsystems berücksichtigt werden, dass Teile davon in die Klimakammer verlagert werden müssen. Oder, dass das Testsystem mit fest verbauten Beschleunigungssensoren zum Dauerbetrieb auf einem Drehtisch rotations­symmetrisch ausgelegt wird, da die Anzahl der Prüfling-Pins die der Schleifkontakte übersteigt.

Dank unseres bewährten und flexiblen Konzepts in offener Bauweise kann jederzeit auch während des Testbetriebs ohne Unterbrechung direkt am Aufbau gemessen werden.

Damit ist es außerdem möglich das Testsystem kurzfristig und schnell auf neue Musterstände oder geänderte Anforderungen an die Außenbeschaltung zu adaptieren. Dies bietet speziell im Entwicklungsumfeld einen entscheidenden Vorteil.

Je nach Wunsch des Kunden können die Systeme selbstverständlich auch in traditioneller 19-Zoll-Technik statt der hier beschriebenen Rack-Aufbauweise realisiert werden.

Wir bieten Ihnen durch die effektive Kombination von unserem HW-Testsystem mit unserer umfangreichen Dienstleistung den gesamten HW-Test aus einer Hand. So entstehen im Ergebnis belastbare Aussagen über die Funktionssicherheit Ihres Hardware-Produkts!

Ihr Ansprechpartner für HW-Testsysteme:

Christian Heinz
Dipl.-Ing. (FH) Christian Heinz

christian.heinznospam@obscured.isyst.de
☏ +49(0)911 / 37665–310