iFIU – Failure Insertion Unit
Zur gezielten Injektion von diversen Fehlern in zu testende Embedded Systems bieten wir die Failure Insertion Unit (iFIU) an. Die Ansteuerung der iFIU erfolgt per CAN-Bus. Signalpfade (Fehlerorte) können mit Dauerströmen von bis zu 30 A belastet werden. Jedes Signal lässt sich einzeln unterbrechen oder auf bis zu zwei Fehlerleitungen schalten, womit voneinander unabhängige Kurzschlüsse und Querverbindungen möglich sind.
Diese Testkomponente wird in unseren eigenen HIL-Systemen standardmäßig eingesetzt, kann Ihnen aber auch in HIL-Systemen anderer Hersteller wertvolle Unterstützung leisten.
