Hochintegrierte Schaltungen in Submicron-Technologie sind besonders empfindlich bei ionisierender Strahlung, z.B. schon aufgrund von Höhenstrahlung. Insbesondere Röntgen- und radioaktive Strahlung im medizinischen Strahlenbunker oder in Kernkraftwerken führen zu hohen FIT-Raten (Soft Errors, SER) und beschleunigter Alterung.

Mit unserem IP-Core haben wir eine Diagnose-Komponente als FPGA entwickelt, um diese Soft Errors und Alterungs­effekte aufgrund von TID-Akkumulation (Total Ionizing Dose) quantitativ zu erfassen. Durch Dreifach-Redundanz können Fehler erkannt und korrigiert werden. Weitere integrierte Funktionen ermöglichen eine Echtzeit­diagnose der Lebensdauer auch unter Berück­sichtigung von Selbst­heilungs­effekten.

Der IP-Core wurde im realem Strahlenumfeld, d.h. im medizinischer Strahlenbunker und in AXI-Umgebungen (Automatic X-Ray Inspection) bestrahlt und damit die Funktions­weise des Soft Error- und Alterungs-Monitors verifiziert. Er kann als verschlüsselte Netzliste verfügbar gemacht und in VHDL-Designs eingebunden werden.