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iSyst

Testkomponenten

  • iFIU – Failure Insertion UnitiSyst Failure Insertion Units (iFIU) dienen zur gezielten Injektion von diversen Fehlern in ein zu testendes Embedded System. Die An­steuer­ung der iFIU erfolgt per CAN-Bus. 161 KB
  • iSyst iLINsimiLINsim ist eine kostengĂĽnstige Simulations-Hardware fĂĽr intelligente Sensoren und Aktoren in Fahrzeugen, die ĂĽber Local Interconnect Network (LIN) kommunizieren.101 KB
  • iSyst iPSI5simDie iPSI5sim wurde als Simulations-Hardware fĂĽr die PSI5-Schnittstelle (Peripheral Sensor Interface 5) zum An­schluss ausgelagerter Sensoren an elektronische Steuer­geräte entwickelt.101 KB
  • iSyst iSENTsimMit der iSENTsim wird eine eigene Kompo­nente fĂĽr die Simu­lation von bis zu 4 SENT-Sen­soren (z.B. Simu­lation eines Hall-Sensors) zur Ver­fĂĽgung gestellt.115 KB
  • iSyst iSPIsimDie iSPIsim dient zur Simulation von Serial Peripheral Interface (SPI)-Schnittstellen als standalone-Modul (z.B. Simulation eines A/D-Wandlers).105 KB
  • iSyst iSyINCDie iSyINC wurde zur Simulation von Inkrementalgeber-Signalen entwickelt. 160 KB
  • iSyst iSyPWMDas iSyPWM-Modul dient in Testsystemen als Funktions­generator und Messgerät fĂĽr Frequenzen /PWM-Signale.115 KB

Testsuite iTestStudio

iSyTester

  • iSyTesterDer iSyTester ist ein kosteneffizienter und platzoptimierter Testplatz fĂĽr den Entwickler.207 KB

SOME/IP

  • iSyst CAN-SOME/IP-GatewayDas SOME/IP-Protokoll bringt Ethernet ins Automobil. Mit dem CAN-SOME/IP-Gateway stellen wir eine leistungsfähige Lösung fĂĽr die Simulation und den Test zur VerfĂĽgung. 145 KB
  • iSyst SOME/IP-StackSimulation und Test von SOME/IP-Netzwerken und -Steuergeräten.109 KB

Förderprojekte

  • ParaObsolObsoleszenz-Management- und Rapid-Prototyping-Methoden, insbesondere fĂĽr die Migration bzw. Nachbildung von obsoleten Mikroelektroniken auf der Basis von FPGA-Technologien.299 KB
  • RedunSysKĂĽnstliche Redundanz (TMR) und On Line-Alterungsanalyse zur Sicherstellung der Funktion elektronischer Schaltungen und fĂĽr die bedarfsgerechte Wartung (Maintenance On Demand MoDe) bei hoher Strahlungsbelastung.200 KB

Kundenspezifische Lösungen

  • iSyst SEU-TID-CoreDetector-IP for Single Event Upsets / Aging Effects (Total Ionizing Dose)408 KB
  • iSyst VHDL AMSMethodik, Designflow und Technologien fĂĽr sicherheitsrelevante analoge Schaltungen und Mixed Signal-Systeme.399 KB
  • Robustes ASIC & FPGA_DesignRobustes ASIC & FPGA Design: FPGA/VHDL, SEU/TID, Simulations- & Design-Methodik (VHDL-AMS, Fault Insertion & Analysis)353 KB
  • LabVIEWUmsetzung von Mess-, PrĂĽf-, und Steuerungsaufgaben mittels LabVIEW™ (National Instruments™) 143 KB

Success Story