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iSyst

Testkomponenten

  • iFIU – Failure Insertion UnitiSyst Failure Insertion Units (iFIU) dienen zur gezielten Injektion von diversen Fehlern in ein zu testendes Embedded System. Die An­steuer­ung der iFIU erfolgt per CAN-Bus. 161 KB
  • iSyst iLINsimiLINsim ist eine kostengĂĽnstige Simulations-Hardware fĂĽr intelligente Sensoren und Aktoren in Fahrzeugen, die ĂĽber Local Interconnect Network (LIN) kommunizieren.101 KB
  • iSyst iPSI5simDie iPSI5sim wurde als Simulations-Hardware fĂĽr die PSI5-Schnittstelle (Peripheral Sensor Interface 5) zum An­schluss ausgelagerter Sensoren an elektronische Steuer­geräte entwickelt.101 KB
  • iSyst iSENTsimMit der iSENTsim wird eine eigene Kompo­nente fĂĽr die Simu­lation von bis zu 4 SENT-Sen­soren (z.B. Simu­lation eines Hall-Sensors) zur Ver­fĂĽgung gestellt.115 KB
  • iSyst iSPIsimDie iSPIsim dient zur Simulation von Serial Peripheral Interface (SPI)-Schnittstellen als standalone-Modul (z.B. Simulation eines A/D-Wandlers).105 KB
  • iSyst iSyINCDie iSyINC wurde zur Simulation von Inkrementalgeber-Signalen entwickelt. 160 KB
  • iSyst iSyPWMDas iSyPWM-Modul dient in Testsystemen als Funktions­generator und Messgerät fĂĽr Frequenzen /PWM-Signale.115 KB

Testsuite iTestStudio

iSyTester

  • iSyTesterDer iSyTester ist ein kosteneffizienter und platzoptimierter Testplatz fĂĽr den Entwickler.207 KB

SOME/IP

  • iSyst CAN-SOME/IP-GatewayDas SOME/IP-Protokoll bringt Ethernet ins Automobil. Mit dem CAN-SOME/IP-Gateway stellen wir eine leistungsfähige Lösung fĂĽr die Simulation und den Test zur VerfĂĽgung. 145 KB
  • iSyst SOME/IP-StackSimulation und Test von SOME/IP-Netzwerken und -Steuergeräten.109 KB

Förderprojekte

  • ParaObsolObsoleszenz-Management- und Rapid-Prototyping-Methoden, insbesondere fĂĽr die Migration bzw. Nachbildung von obsoleten Mikroelektroniken auf der Basis von FPGA-Technologien.299 KB
  • RedunSysKĂĽnstliche Redundanz (TMR) und On Line-Alterungsanalyse zur Sicherstellung der Funktion elektronischer Schaltungen und fĂĽr die bedarfsgerechte Wartung (Maintenance On Demand MoDe) bei hoher Strahlungsbelastung.200 KB

Kundenspezifische Lösungen

  • iSyst SEU-TID-CoreDetector-IP for Single Event Upsets / Aging Effects (Total Ionizing Dose)408 KB
  • iSyst VHDL AMSMethodik, Designflow und Technologien fĂĽr sicherheitsrelevante analoge Schaltungen und Mixed Signal-Systeme.399 KB
  • Robustes ASIC & FPGA_DesignRobustes ASIC & FPGA Design: FPGA/VHDL, SEU/TID, Simulations- & Design-Methodik (VHDL-AMS, Fault Insertion & Analysis)353 KB
  • LabVIEWUmsetzung von Mess-, PrĂĽf-, und Steuerungsaufgaben mittels LabVIEW™ (National Instruments™) 143 KB

Hardware Test

  • Datenanalyse und AuswertungEntwicklung von automatisierten Datenanalysen und Auswertungen fĂĽr Kunden. Methoden und Tools um auch groĂźe Datenmengen effizient zu analysieren.140 KB
  • Organisation und DurchfĂĽhrung von UmwelttestsUnterstĂĽtzung u. a. bei der Koordination des PrĂĽfablaufs, verfĂĽgbare Testkapazitäten, Testequipment, Personal zur Betreuung und DurchfĂĽhrung. 114 KB
  • Testspezifikation fĂĽr Umwelttests RobustheitstestsEs gibt diverse PrĂĽfungen, die auf unterschiedliche Effekte abzielen. Aus unserer langjährigen Erfahrung im Bereich der Hardwarequalifikation wissen wir, welche Tests fĂĽr welche Effekte geeignet sind und wie sich diese auf die Systeme auswirken können.109 KB